探针台的使用说明：
1、将样品载入真空卡盘，开启真空阀门控制开关，使样品清静且牢靠地吸附在卡盘上 。
2、使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台，在显微镜低倍物镜聚焦下看清晰样品 。
3、使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台将样品待测试点移动至显微镜下 。
4、显微镜切换为高倍率物镜，在大倍率下找到待测点，再微调显微镜聚焦和样品x-y，将影像调理清晰,带测点在显微镜视场中心 。
5、待测点位置确认好后,再调理探针座的位置,将探针装上后可眼观先将探针移到靠近待测点的位置旁边,再使用探针座X-Y-Z三个微调旋钮,逐步的将探针移至被测点,此时行动要小心且缓慢，以防行动过大误伤芯片，当探针针尖悬空于被测点上空时，可先用Y轴旋钮将探针退后少许，再使用Z轴旋钮举行下针，最后则使用X轴旋钮左右滑动，视察是否有少许划痕，证实是否已经接触 。
6、确保针尖和被测点接触优异后，则可以通过毗连的测试装备最先测试 。
